測量原理
從半導(dǎo)體激光器發(fā)出的激光光束被一個多面鏡和一個平面鏡反射。光束穿過一個準(zhǔn)直F (θ)透鏡。掃描目標(biāo)物后，光束通過接收器透鏡匯聚并轉(zhuǎn)換成一個與接收光強度成正比的電子信號，根據(jù)光束被目標(biāo)物遮斷形成陰影的時間來計算目標(biāo)物尺寸。?
激光掃描方式的原理圖
采用32位DSP、32位MCU微處理器芯片，保證了數(shù)據(jù)的計算與輸出能力。專用的測量算法配合高精密硬件，可保證測徑儀長期使用后數(shù)據(jù)的穩(wěn)定住與準(zhǔn)確性。
測量模式
四軸測量
單軸測量
雙軸測量
測量類型
直徑檢測
寬度厚度檢測
凹凸缺陷檢測
跳動檢測
橢圓度檢測
準(zhǔn)確測量
采用進(jìn)口高速微型馬達(dá)（高掃描頻率）、軍工級制程激光器（高準(zhǔn)直性）、最新的非球面光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計與加工、優(yōu)化特定的邊緣檢測算法。測徑儀掃描頻率最高可達(dá)2400Times/S(單軸)，能精準(zhǔn)識別被測物邊緣，保證在一個測量周期內(nèi)得到更多的被測物單個掃描值，高精度單周期精確數(shù)據(jù)采集能真實反應(yīng)其尺寸變化和表面缺陷，能在很小的掃描間距內(nèi)檢出產(chǎn)品表面的粒子、漆瘤、氣泡、砂眼等，當(dāng)缺陷的尺寸大于最小檢測間距時能被準(zhǔn)確檢出;尤其在扁平物測量方面，結(jié)合優(yōu)化邊緣算法，更能真實檢測出其寬度和厚度，這是傳統(tǒng)測量方法或低掃描頻率檢測儀器所不具備的。
直徑與缺陷檢測
?波紋，鋸齒檢測
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